comprobador-multicanal-modulos-opticos-wAnritsu Corporation ha lanzado la nueva serie BERTWave MP2110A, que está optimizada para la inspección de fabricación de módulos ópticos multicanal de 100 Gbit / s. El recientemente añadido BERTWave MP2110A es un instrumento todo en uno dirigido a mediciones simultáneas BER (Bit Error Rate) y el análisis Eye Pattern requeridos para la evaluación de módulos ópticos y dispositivos utilizados en sistemas de comunicaciones ópticas, incluyendo 100 GbE, InfiniBand EDR y 32G Fibre Channel.

    El nuevo Anritsu BERTWave MP2110A con su muestreo de alta velocidad reduce los tiempos de medición y el rendimiento del detector de errores de alta sensibilidad mejora los rendimientos para reducir los módulos ópticos y los costes de producción de los dispositivos.

    A diferencia de los entornos de medición anteriores que requieren dos instrumentos independientes para medir el BER y analizar Eye Pattern, el MP2110A soporta mediciones simultáneas, ahorrando espacio de instalación del equipo. Además, para acortar los tiempos takt en los módulos ópticos y en las líneas de producción de los dispositivos, la velocidad máxima de muestreo del MP2110A se ha incrementado a 250 kmuestras / s, reduciendo en un 75% los tiempos de análisis Eye Pattern para las pruebas Eye Mask. El MP2110A también admite opciones para ampliar el probador de error de bits (BERT) a 4 canales hasta 28,2 Gbit / s, y el osciloscopio de muestreo incorporado a 2 canales. Como resultado, el MP2110A puede realizar simultáneamente mediciones TRx BER de módulos ópticos multicanal, como QSFP28, y análisis simultáneos Eye Pattern de 2 canales, reduciendo drásticamente los tiempos de medición en un 65% en comparación con sistemas de medición anteriores.

    Y con una sensibilidad mínima de -15 dBm (típica SMF), la interfaz óptica del osciloscopio de muestreo soporta un análisis preciso Eye Pattern de las señales que han sido atenuadas por los switches, etc. El excelente desempeño de PPG Jitter de sólo 600 fs rms (típico), y la sensibilidad de ED de 25 mV (típico) también soportan la medición con mejor rendimiento que el dispositivo bajo prueba (DUT).

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