NI anuncia a la venta el Wireless Test System (WTS), una solución que reduce drásticamente el coste de la prueba de fabricación inalámbrica de gran volumen. El WTS combina los últimos avances en hardware PXI para ofrecer una única plataforma de pruebas multiestándar, multi-DUT y multipuerto. Cuando se utiliza con software de secuencias de pruebas flexibles, como el módulo de prueba inalámbrico TestStand, los fabricantes pueden mejorar de forma significativa la utilización de instrumentos a la hora de probar varios dispositivos en paralelo. El WTS se integra fácilmente en una línea de fabricación con secuencias de prueba listas para ejecutarse para dispositivos que utilizan conjuntos de chips de proveedores como Qualcomm y Broadcom, así como el control de automatización remota y DUT integrado. Con estas funciones, los clientes consiguen ganancias de eficiencia considerables a partir de su equipo de pruebas de RF y reducen más su coste de la prueba.

El WTS es el último sistema de NI construido en el hardware PXI y en el software LabVIEW y TestStand (consulte el Semiconductor Test System lanzado en 2014). El WTS, compatible con estándares inalámbricos de LTE Advanced a 802.11ac para Bluetooth Low Energy, está diseñado para la prueba de fabricación de puntos de acceso WLAN, teléfonos móviles, sistemas de información de entretenimiento y otros dispositivos multiestándar, como estándares de teléfonos móviles, conectividad inalámbrica y navegación. La tecnología del transceptor de señales de vector- PXI diseñado con software dentro del WTS ofrece gran rendimiento RF en el entorno de prueba de fabricación y una plataforma que puede escalarse con los requisitos cambiantes de la prueba de RF.

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