Agilent Technologies celebrará durante los meses de Marzo y Abril el seminario “Integridad de Señal - Innovadoras Técnicas TDR basadas en Analizadores Vectoriales de Redes”, en las ciudades de Bilbao, Madrid, Valladolid, Santiago de Compostela, Sevilla, Málaga, Almería, Barcelona, Valencia y Santander.

Las tendencias actuales de la electrónica obligan a los profesionales a aprovechar al máximo el limitado presupuesto para medida, optimizando el rendimiento de la instrumentación. El conocimiento de las soluciones de medida existentes y las capacidades de las mismas resulta indispensable para acortar el ciclo de diseño/desarrollo y pruebas, así como para la obtención de resultados precisos y exitosos.
 
Una caracterización precisa de los conectores, cables, interconexiones, placas de circuito impreso (PCB) y encapsulados de circuito impreso entre otros, diseñados para trabajar a las velocidades actuales, requiere de medidas paramétricas tales como impedancia/retardos (dominio del tiempo) y medidas de pérdidas de retorno/inserción (dominio de la frecuencia).
 
A medida que la tasa de bit aumenta en las aplicaciones digitales de alta velocidad, la integridad de señal de todas las interconexiones, cables, transmisores y receptores, impactan dramáticamente en las prestaciones del sistema. Asegurar la fiabilidad del producto y el cumplimiento de los estándares de comunicación de alta velocidad de ahora y del futuro, requiere de medidas aún más estrictas y complejas.
 
Otro de los desafíos consiste en trasladar los resultados de medida obtenidos a cómo se comportará nuestro enlace punto a punto y qué aspecto tendrá el diagrama de ojo al final de dicho enlace. Incluso conociendo el diagrama de ojo a la salida del transmisor, conocer con exactitud la contribución de nuestros componentes a la integridad de la señal, es muy complicado si contamos únicamente con medidas tradicionales de impedancia/retardos y pérdidas de retorno/inserción.
 
En este seminario se explicará de forma comprensible los fundamentos de las diferentes herramientas de medida existentes y estará centrado en las innovadoras técnicas TDR/TDT basadas en analizadores de redes vectoriales (VNAs) que nos ayudarán a conocer cómo se va a comportar nuestro cable, conector, PCB, … en términos paramétricos tiempo/frecuencia y de integridad de señal. También se abordarán las distintas posibilidades para entornos de producción donde el coste total de la solución y la velocidad de test es un punto muy importante.
 
La agenda del seminario será la siguiente:
09:00 – 09:15     Presentación y Bienvenida
09:15 – 10:30    Fundamentos de Medida y Metodologías: tiempo y frecuencia
10:30 – 11:00    Café
11:00 – 12:15    TDR/TDT basado en analizador vectorial de redes
12:15 – 13:00    Analizador PCB – Altas prestaciones, bajo coste
13:00    Cierre
 
La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado.

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