Keysight Technologies organiza el Seminario “RFPro Nueva tecnología de simulación EM aplicada a diseños Multi-Tecnología: Estrategias para analizar y minimizar efectos EMI/EMC en todo tipo de diseños” durante el mes de Abril en las siguientes ciudades:

Madrid (9 de Abril) - E.T.S.I. de Telecomunicación
Burjassot, Valencia (10 de Abril) - Escola Tècnica Superior d’Enginyería, Universidad de Valencia
Barcelona (12 de Abril) - Universitat Politecnica de Catalunya

Todos los diseños electrónicos actuales y mucho más en las tecnologías emergentes, implican la implementación de múltiples tecnologías en espacios muy reducidos. Estos retos precisan nuevas técnicas EM en toda las tecnologías de nuestros proyectos, que nos permitan Co-Simular electrónica de Potencia, Memorias y Buses Digitales de alta velocidad, IC’s , RF/MW,....

En este seminario se analizarán, con ejemplos prácticos, como emplear esta nueva tecnología de simulación EM a las diferentes partes de nuestro diseño, para minimizar los problemas EMI/EMC antes de realizar el primer prototipo.

El seminario incluirá las siguientes temáticas:

- Introducción: Soluciones de Análisis y Simulación en diseños complejos Multi-Tecnología: Digital, RF, Electrónica de Potencia,...
- Análisis y simulación EM en diseños RF/MW
- Análisis y simulación EM en diseños Digitales de alta velocidad :Memorias ,Buses, Diseño de Bias,....
- Análisis y simulación EM en diseños con tecnología GaN/SiC de potencia
- EM - EMI/EMC en diseños Multi-Tecnología – Ejemplo

La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado.

Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

Submit to FacebookSubmit to Google PlusSubmit to TwitterSubmit to LinkedIn

Conectores Revista FTTH Electrónica industrial. Cursos de fibra Óptica, Seminarios Online, Noticias Tecnología y Ferias Tecnologicas,Cables y Conectores Industriales de Fibra Optica, Noticias Empresas, Osciloscopios y Herramientas, Centros de datos.