向 200G/通道传输的过渡带来了根本性的测量挑战。传统测试设备的带宽不足以捕捉谐波成分和高频失真，而这些在 100 Gbaud PAM4 信号速率下变得尤为关键。这种带宽限制阻碍了对行业标准要求的关键光学参数的精确测量，可能导致在开发和制造验证过程中遗漏重要特性。.
从 800G 到 1.6T 的聚合数据传输速率提升加剧了这一挑战，因为必须在不影响测量精度或性能要求的前提下，同时评估多条高速通道。这项技术将在 ECOC 2025（哥本哈根，9 月 29 日至 10 月 1 日）安立公司的 C4335 号展位上展出，届时将演示 1.6T 收发器验证和 AI 数据中心基础设施测试等实际应用案例。.
产品特性
工程解决方案：60 GHz 采样架构
MP2110A-080 采用 60 GHz 采样前端，专为捕获 200G/Lane 速率下精确 PAM4 TDECQ（发射机色散眼闭合四进制）测量所需的关键频谱分量而设计。这种带宽扩展使工程师能够：
表征以前低带宽仪器无法检测到的高频信号劣化机制；
验证是否符合要求精确测量眼闭合惩罚的 200G/Lane 新标准；
识别仅在扩展频域中出现的码间干扰模式。
主要技术规格：
60 GHz 光采样带宽：支持高达 120 Gbaud 的 PAM4 信号；
同时 4 通道测量：可对多通道收发器进行特性分析；
采样率提高 4 倍：降低高通量制造的测量延迟
；集成参考接收器性能：在整个扩展带宽内保持 TDECQ 测量精度；
可通过软件升级通道数：提供从 2 通道到 4 通道的可扩展部署路径。
