接下来,本文将分析扩展到光源的光谱参数,为此将使用光谱分析仪(OSA)。测量精度很大程度上取决于仪器的正确校准,因此本文还将简要讨论一种用于校准光谱分析仪的方法。.
光学光源的光谱特性
如前所述,光频谱分析仪用于对光源进行光谱表征。该测量仪器可以确定光源的多个参数,例如中心波长、峰值功率、噪声谱密度、带宽、模式分离度等等。几乎所有分析仪都覆盖宽波长范围(例如 600 至 1700 nm),因此可以测量通信系统发射机(第一、第二和第三传输窗口)中使用的任何光源。根据光源类型的不同,所需的测量可能差异很大,因为每种情况下都必须考虑其特定特性。以下总结了其中一些特性。.
DFB激光器。
在DFB激光器中,需要测量的主要参数包括:峰值波长、峰值振幅/功率、带宽抑制比(A)、中心偏移(B)、模式偏移(C)、带宽、带宽抑制比以及模式抑制比(D)或边模抑制比(SMSR)。图1以DFB激光器为例,展示了使用光谱分析仪测量的光谱及其特征参数。图中还以图形方式展示了部分参数。
法布里-珀罗激光器
与DFB激光器不同,法布里-珀罗激光器的光谱由一系列纵模组成。在这种情况下,通常测量的典型参数包括:峰值波长和平均波长、峰值振幅/功率、总功率、模式间距(A)、半峰全宽(FWHM,B)和σ。σ参数定义为光谱宽度的均方根值,计算公式为FWHM = 2.355 × σ。图2展示了一个典型的法布里-珀罗激光器的测量示例。LED
最后
,另一种非常典型的光源是LED。其主要光谱参数包括:峰值波长、半峰全宽(FWHM)、σ、总功率或峰值功率密度。图3展示了LED的光谱及其特征参数的测量结果。当使用光谱分析仪测量LED时,光源的光谱宽度远大于分析仪的分辨率带宽(RBW)。因此,图中的曲线点代表的是功率谱密度值(mW/nm),而非绝对功率。在图3所示的测量中,峰值功率密度是在0.1 nm的带宽下测定的。
光谱分析仪校准:
为了进行上述精密测量,分析仪的精确校准至关重要。虽然在许多情况下建议定期校准,但通常情况下,购买前都会进行校准。一种典型的校准方法是使用气室作为波长参考源。气室由一个充满已知纯度和压力的气体或混合气体的管子组成。通常将光纤连接到该管子上,并将宽带光信号(通常来自ASE噪声源)通过该装置。由于气体分子具有一系列位于特定已知波长的吸收线,因此气室的光输出光谱可以用作校准光谱分析仪的参考源。此外,这些吸收线对环境条件的变化(例如温度和压力的变化或电磁场的存在)非常稳定,这也是一个额外的优点。
乙炔 (C₂H₂) 池是 C 波段的主要波长参考物质之一,其吸收光谱覆盖 1510 至 1540 nm 的范围。美国政府标准机构 NIST(国家标准与技术研究院)制定了一系列参考物质 (SRM),其中概述了气体池必须满足的特性,才能被认证为光学仪器校准的参考源。例如,SRM2517 就是乙炔池的参考物质。图 4 显示了其中一个乙炔池的吸收光谱(制造商:Wavelength References)。如图所示,在特定波长处存在多个吸收峰。波长精度约为 0.3 pm,温度变化小于 0.01 pm/°C。正是由于这些特性以及其低成本,乙炔池成为校准光谱分析仪的理想选择。.
作者:
弗朗西斯科·拉莫斯·帕斯夸尔,电信工程博士
瓦伦西亚理工大学正教授
在前一篇文章(CONECTrónica 第 93 期,2006 年 1 月,第 12-14 页)中,我们介绍了使用 LIV 测试系统对激光二极管进行光电特性表征的步骤。该测试对于检查器件可能存在的故障以及获取其调制曲线至关重要。.
