然而，随着光纤传输容量的不断增长，这些技术正接近其物理和性能极限。.

因此，近期的研发重点集中在松耦合多芯光纤上，这种光纤在单根光纤内包含多个独立的纤芯。虽然这种光纤显著提高了传输容量，但纤芯间的串扰（由各纤芯间的光泄漏引起的干扰）会降低传输质量。串扰不仅取决于光纤的设计和制造工艺，还取决于安装条件，因此需要在实际应用条件下评估纤芯串扰。尽管一些公司和研究机构提出了不同的纤芯串扰测量方法，但每种方法的结果尚未得到充分验证。.

在本次对比评估中，安立公司与藤仓公司合作，采用四种方法测量了纤芯间的串扰：两种方法使用光功率计，两种方法使用安立公司的光时域反射仪（OTDR）测量光纤损耗和反射率。所评估的四芯松耦合多芯光纤由藤仓公司制造，其标准包层直径为125 µm。在1550 nm波长下，每种方法的测量结果均在±1.0 dB以内。因此，根据松耦合多芯光纤的应用场景（例如研发、制造、安装和维护），可以选择这四种测量方法中的任何一种，且无论采用哪种方法，都能保证结果的一致性。此外，这些结果将有助于未来松耦合多芯光纤的标准化工作。.