安捷伦科技公司 成功举办了“阻抗测量和IV/CV器件表征新解决方案”研讨会。该研讨会于10月在多个大学和城市举办，吸引了400多位客户参加，举办院校包括：吉普斯夸技术研究中心、毕尔巴鄂德乌斯托大学、奥维耶多大学、瓦伦西亚理工大学、马德里自治大学等。
塞维利亚微电子研究所、科尔多瓦大学、格拉纳达大学、马拉加大学、阿尔梅里亚大学、萨拉戈萨大学、巴塞罗那自治大学、马德里理工大学、卡斯蒂利亚-拉曼查大学（位于雷阿尔城）和维戈大学。.
本次研讨会的内容不再局限于这家领先的测量技术公司一直以来所关注的射频和微波主题，而是着重展示其广泛的技术解决方案也涵盖了复杂阻抗测量、材料表征以及通过绘制 IV 和 CV 曲线进行器件表征等方面的挑战。.
本次研讨会由安捷伦科技公司应用工程师 Adolfo del Solar 主讲，他专攻这些领域，并发表了两篇论文，分别是“使用矢量网络分析仪进行阻抗测量的新解决方案”和“从纳米管到光伏电池的器件表征中 IV 和 CV 测量的基础知识”。.
复阻抗测量：
研讨会的第一部分重点介绍了各种器件中的复阻抗测量，演示了利用矢量网络分析仪在 5 Hz 至 3 GHz 频率范围内精确测量毫欧级至兆欧级阻抗的新技术。本次测量使用的分析仪是安捷伦科技公司的 E5061B-3L5，它是唯一一款集复阻抗分析、等效电路计算与仿真以及 5 Hz 以上完整 S 参数分析功能于一体的矢量网络分析仪。在回顾了当前的阻抗测量方法及其各自的优缺点之后，研讨会详细阐述了这些新的复阻抗测量技术如何克服传统网络分析仪在 50 Ω 或 75 Ω 范围之外的阻抗测量方面的局限性，从而能够对以往网络分析仪无法企及的阻抗范围进行高精度测量。此外，所展示的测量方案的阻抗分析和电路仿真功能也开辟了新的应用前景，使这款在测量实验室中已必不可少的工具更加灵活。
该矢量网络分析仪还展示了其他测量功能，由于其增益相位端口，使得从 PDN（配电网络）到 DC-DC 转换器等应用的测量配置更加灵活和简单。.
材料介电性能的测量：IV 和 CV 曲线绘制。
在第一场报告的结尾，Adolfo del Solar 介绍了用于测量材料介电性能的解决方案。在安捷伦科技提供的多种材料介电性能测量解决方案中，本文介绍的解决方案与所有安捷伦科技矢量网络分析仪兼容，包括 FieldFox 系列手持式分析仪。该测量方案基于使用矢量网络分析仪，通过测量被测材料的反射系数和透射系数来获取介电常数和磁导率信息。
研讨会的第二部分介绍了如何绘制 I-V 和 CV 曲线，以实现器件的高效简便表征，并展现了安捷伦科技测量解决方案的高精度和高质量测量特性。本部分涵盖了源监测单元 (SMU) 的基本原理，以及如何利用 SMU 轻松进行器件的 I-V 表征。借助安捷伦免费控制软件的友好设计，只需点击几下即可获得曲线和数据。.
本文介绍的两款测量解决方案——B2900A（台式SMU）和B1500A（模块化SMU）——均具备极高的测量质量和精度，并且操作简便，这在同类仪器中实属难得。特别是B2900A，对于需要经济高效、高性能且操作简便的实验室而言，它是一款灵活可靠的解决方案。用户只需几分钟即可掌握B2900A的操作，即可快速完成从绘制I-V曲线到高精度器件功率和测量（甚至在飞安级范围内）等各种操作。.
另一方面，安捷伦的 EasyEXPERT 软件用于控制 B1500A 模块化解决方案。该软件提供无与伦比的灵活性和测量功能，用户只需按几下按钮即可完成从完整的器件特性测试（包括 IV 和 CV 测量）到开发任何复杂测试序列的所有操作。其用户界面简化了系统配置，使用户能够快速轻松地成为专家。.
第二场报告以B1525A脉冲发生器单元的演示结束，展示了如何使用安捷伦DSO9404A等高性能示波器来验证施加到被测器件上的波形是否符合预期。
简而言之，本次研讨会对于任何有兴趣通过阻抗测量或I/V/CV曲线绘制来表征器件和材料的人来说都至关重要。
