SPARQ 是一款时域测量仪，它采用 TDR/T 技术和 LeCroy 的专利创新技术，能够快速采集波形并测量被测器件的 S 参数。SPARQ 可同时测量频域和时域，并提供符合 Touchstone 标准的 S 参数文件，方便
用户将其加载到仿真软件中。该设备体积小巧、坚固耐用，支持 PC 和笔记本电脑，并包含信号完整性工程师进行无源器件特性分析所需的所有硬件和软件工具。SPARQ
使用内置的 OSLT 校准套件进行校准。只需单击一个按钮即可自动完成校准和测量，无需连接和断开校准标准。有了 SPARQ，繁琐、耗时且容易出错的校准程序终于被彻底取代。SPARQ
“E” 型号包含内置校准标准，并且支持使用外部校准套件进行手动校准。SPARQ
的设置快速简便；所有测量 S 参数的配置都集中在一个设置界面中。
使用自动校准时，SPARQ 内置了必要的电缆、适配器和附件，可将 S 参数传输至被测设备。用户无需担心参考平面的位置，也无需使用额外的软件辅助测量。
所有信号完整性工具均为标配，并配备用户熟悉的软件界面。SPARQ
标准包含所有必要的硬件和软件工具，可实现快速、精确且
高动态范围的 S 参数测量。用户可以测量单端、差分和混合模式（幅值和相位）S 参数，并查看相应的时域结果，包括阶跃响应、脉冲响应、ρ 和归一化阻抗（Z），且上升时间可由用户选择。这些功能均免费提供。用户还可以查看 TDR 和 DTT 波形，并且该设备包含一个高动态 TDR/DTT 工作模式，可用于调试应用。
SPARQ 附带的软件对于 LeCroy Windows 示波器的用户来说应该非常熟悉。
它最多可以同时显示 16 个 S 参数波形，并支持缩放、重新定位以及对波形进行数学运算和测量，操作
方式与 LeCroy 的高端示波器类似。SPARQ
系列共有三种型号：SPARQ-4004E（40GHz，4 端口，内置校准）、SPARQ-4002E（40GHz，2 端口，内置校准）和 SPARQ-4002M（40GHz，2 端口，手动校准）。
