借助第二代 VST,工程师可以同时生成和测量多达 32 个 LTE 载波,每个载波的带宽为 20 MHz,并使用该软件指定各种载波空间方案。.
最新版本的 NI-RFmx 还改进了算法,以缩短测量时间。对于 UMTS/HSPA+ 和 LTE/LTE-Advanced Pro 等无线技术,进行频谱和调制质量测量的工程师可以预期 EVM 测量时间最多可缩短 33%。1 通过安装最新软件版本即可实现。NI-RFmx 测量速度的提升是 NI 为帮助客户通过更快的测量速度降低测试成本而持续努力的一部分。.
“通过采用 PXI 和 LabVIEW 以及 NI-RFmx 测量软件,我们看到许多半导体客户显著缩短了射频测量测试时间,从而降低了测试成本并加快了产品上市速度,”NI 射频副总裁 Charles Schroeder 表示。“完善的文档、丰富的示例代码以及与 PXI 硬件(例如第二代 VST)的良好集成,帮助我们的客户快速轻松地在其测试系统中采用 NI-RFmx。”.
除了算法改进之外,NI-RFmx 还增加了对互调失真、三阶交叉、冷源噪声系数和 Y 因子噪声系数等测量的支持。这些测量与 PXIe-5668R 射频信号分析仪无缝集成,使工程师能够轻松配置高性能的 PXI 互调失真和噪声系数测试套件。现有 NI-RFmx 用户可以 点击这里 下载并开始使用最新版本。.
 
1基于众多研发测试平台,这些平台的配置代表了典型的使用场景。.

更多信息或报价