Agilent Technologies a organisé avec succès le séminaire « Nouvelles solutions pour la mesure d'impédance et la caractérisation des dispositifs IV/CV ». Plus de 400 clients ont participé à ce séminaire, qui s'est tenu en octobre dans différentes universités et villes : le Centre d'études et de recherches techniques de Guipúzcoa, l'Université de Deusto à Bilbao, l'Université d'Oviedo, l'Université polytechnique de Valence et l'Université autonome de Madrid.
Institut de microélectronique de Séville, Université de Cordoue, Université de Grenade, Université de Malaga, Université d'Almeria, Université de Saragosse, Université autonome de Barcelone, Université polytechnique de Madrid, Université de Castille-La Manche à Ciudad Real et Université de Vigo.
Le contenu du séminaire s'éloigne des sujets liés aux radiofréquences et aux micro-ondes auxquels cette entreprise leader dans le domaine des technologies de mesure nous a habitués, pour montrer que sa large gamme de solutions technologiques couvre également les défis de la mesure d'impédance complexe, de la caractérisation des matériaux et de la caractérisation des dispositifs par le tracé des courbes IV et CV.
Le séminaire a été brillamment animé par Adolfo del Solar, ingénieur d'applications chez Agilent Technologies spécialisé dans ces domaines, qui a présenté les deux communications qui composent le séminaire : « Nouvelles solutions pour la mesure d'impédance à l'aide d'analyseurs de réseaux vectoriels » et « Fondements des mesures IV et CV dans la caractérisation des dispositifs, des nanotubes aux cellules photovoltaïques ».
Mesure d'impédance complexe :
La première partie du séminaire était consacrée à la mesure d'impédance complexe dans divers dispositifs. Elle présentait de nouvelles techniques permettant la mesure précise d'impédances allant du milliohm à plusieurs mégaohms à l'aide d'un analyseur de réseau vectoriel, de 5 Hz à 3 GHz. L'analyseur utilisé pour ces mesures était l'Agilent Technologies E5061B-3L5, le seul analyseur de réseau vectoriel combinant l'analyse d'impédance complexe, le calcul et la simulation de circuits équivalents, ainsi qu'une analyse complète des paramètres S à partir de 5 Hz. Après un tour d'horizon des méthodes de mesure d'impédance existantes, incluant leurs avantages et leurs limites, le séminaire a détaillé comment ces nouvelles techniques de mesure d'impédance complexe surmontent les limitations classiques des analyseurs de réseau pour les mesures d'impédance hors des plages de 50 ou 75 Ω. Elles permettent ainsi des mesures d'impédance d'une grande précision, auparavant inimaginables avec un analyseur de réseau. De plus, les capacités d'analyse d'impédance et de simulation de circuits de la solution de mesure présentée ouvrent de nouvelles perspectives et rendent plus flexible un outil déjà indispensable dans les laboratoires de mesure.
D'autres capacités de mesure de l'analyseur de réseau vectoriel ont également été présentées, qui, grâce à ses ports de gain-phase, rendent la configuration des mesures plus flexible et plus simple pour des applications allant des réseaux de distribution d'énergie (PDN) aux convertisseurs CC-CC.
Mesure des propriétés diélectriques des matériaux. Tracé des courbes IV et CV.
Pour conclure la première présentation, Adolfo del Solar a présenté la solution de mesure des propriétés diélectriques des matériaux. Parmi les nombreuses solutions proposées par Agilent Technologies, celle présentée est compatible avec tous les analyseurs de réseaux vectoriels Agilent Technologies, notamment la gamme d'analyseurs portables FieldFox. Cette solution de mesure repose sur l'utilisation d'un analyseur de réseaux vectoriels pour obtenir les informations de permittivité et de perméabilité à partir des coefficients de réflexion et de transmission du matériau testé.
La seconde partie du séminaire a présenté le tracé des courbes IV et CV, une méthode simple et efficace pour la caractérisation des dispositifs, avec la haute précision et la qualité de mesure propres aux solutions de mesure d'Agilent Technologies. Cette section a abordé les principes fondamentaux des unités de surveillance de source (SMU) et leur utilisation aisée pour la caractérisation IV des dispositifs. Grâce à l'interface conviviale du logiciel de contrôle gratuit d'Agilent, l'obtention du tracé et des données se fait en quelques clics.
Les deux solutions de mesure présentées, le B2900A (unité de mesure de paillasse) et le B1500A (unité de mesure modulaire), offrent une qualité et une précision de mesure élevées, ainsi qu'une simplicité d'utilisation surprenante pour ce type d'instrumentation. Le B2900A, en particulier, se distingue comme une solution flexible et fiable pour les laboratoires recherchant un outil performant et économique, facile à maîtriser en quelques minutes, permettant des opérations rapides allant du tracé de courbes I-V à la mesure de puissance et de courant de haute précision, même dans la gamme du femtoampère.
Par ailleurs, le logiciel EasyEXPERT d'Agilent a été utilisé pour piloter la solution modulaire B1500A. Ce logiciel offre une flexibilité et une puissance de mesure inégalées, permettant aux utilisateurs de réaliser, en quelques clics, une caractérisation complète du dispositif (incluant les mesures IV et CV) et de développer n'importe quelle séquence de test complexe. Son interface utilisateur simplifie la configuration du système et permet aux utilisateurs de devenir rapidement et facilement des experts.
La seconde présentation s'est conclue par une démonstration du générateur d'impulsions B1525A, illustrant comment un oscilloscope haute performance tel que l'Agilent DSO9404A permet de vérifier que la forme d'onde appliquée au dispositif testé est bien celle attendue.
En résumé, ce séminaire est indispensable à toute personne intéressée par la caractérisation de dispositifs et de matériaux par mesure d'impédance ou par tracé de courbes IV et CV.
