L'instrumentation actuelle effectue des mesures, fournit des données analysables et permet d'en tirer rapidement des conclusions. Nous verrons comment détecter et corriger diverses sources d'erreur. Les nanotechnologies requièrent des mesures et une génération de faible puissance, tant en courant qu'en tension. La possibilité de mesurer en mode pulsé permet des mesures isothermes de la caractéristique courant-tension (I-V), des mesures de charge pulsée et des mesures de contrainte en courant alternatif.
Les sujets qui seront abordés incluent :
- Mesures et connexions typiques en recherche et nanotechnologie. Mesures sur plaquettes avec stations de test.
- Techniques de mesure nécessaires pour mesurer les faibles courants, les résistances faibles et élevées dans les matériaux ou les dispositifs à l'aide d'un manomètre.
- Sources d'erreur affectant les mesures sur les semi-conducteurs, les nanomatériaux et autres dispositifs.
- Solutions de mesure applicables aux semi-conducteurs, aux nanodispositifs et aux matériaux.
- Caractérisation et connexions des nanotubes de carbone et des dispositifs à un seul électron.
-Pourquoi les tests pulsés sont-ils essentiels pour les nanodispositifs ?
- Dispositifs à limites isothermes (90 nm, 65 nm, FinFET, SOI, LDMOS (haute puissance)
- Verrouillage de charge (diélectriques avec K porté à 65 nm ou moins)
- Dégradation de la mobilité due à la capture de la cargaison.
- Tests de contrainte en courant alternatif pour évaluer la fiabilité et la durée de vie des appareils.
- Charge pulsée pour les diélectriques de grille à constante diélectrique élevée
- Tests CV multifréquences : épaisseur du diélectrique, caractéristiques de charge globales et d’interface, profils de dopage.
- Bioélectronique et biocapteurs.
-Test de mémoire.
Séminaire 2 : Le nouveau processeur de scripts des instruments LXI simplifie la programmation des multimètres, des systèmes de commutation et des unités source/mesure, permettant des mesures plus rapides et plus économiques.
Cette présentation offre un aperçu des nouvelles fonctionnalités des instruments courants, notamment les multimètres, les enregistreurs de données, les systèmes de commutation et les unités source/mesure. Elle démontrera pourquoi les instruments LXI remplaceront bientôt les équipements basés sur le GPIB (norme IEEE-488GPIB à venir).
Les sujets abordés incluent :
- L’évolution des technologies de test en courant continu.
- Pourquoi LXI ?
- La programmation TSP : comment réduire le temps de développement logiciel de 60 %.
- Pourquoi la programmation TSP est-elle plus rapide et plus économique que la programmation GPIB ?
- Comment TSP-LINK simplifie la synchronisation entre plusieurs instruments.
- Les instruments combinant mesures et commutation.
Vous découvrirez également une station de test.
