Valence (29 mars), Bellaterra (30 mars), Barcelone (31 mars), Cantabrie (5 avril), Bilbao (6 avril), Saint-Sébastien (7 avril), Leganés (8 avril), Madrid (13 avril) et
Séville (14 avril)
Aujourd'hui, avant sa commercialisation, un produit subit de nombreux tests tout au long de son cycle de vie, de la conception à la vérification en production. Ces tests sont de plus en plus complexes et rigoureux, et nécessitent une variété d'instruments de mesure. Ainsi, grâce aux progrès réalisés dans le domaine de l'instrumentation, des facteurs tels que la flexibilité, la modularité, la compatibilité multiplateforme et, bien sûr, la rapidité et la précision sont désormais possibles.
Ces nouveaux facteurs de mesure et cette nouvelle philosophie offrent à l'utilisateur final la possibilité d'accroître les performances de son instrumentation, de protéger son investissement, de raccourcir le cycle de conception, d'améliorer les caractéristiques de conception et surtout, d'utiliser moins d'instruments pour effectuer les mêmes mesures, de personnaliser de manière modulaire l'instrumentation nécessaire et d'obtenir de meilleures performances dans un format plus compact.
Dans ce séminaire éminemment pratique, une caractérisation complète au niveau des composants et du système d'un dispositif actif et d'un convertisseur de fréquence sera réalisée avec le minimum d'instrumentation possible, alors que traditionnellement nous aurions besoin de plusieurs instruments de mesure.
Vous apprendrez à configurer les instruments pour effectuer une large gamme de mesures, allant des paramètres S au niveau des composants et de l'EVM au niveau du système, à la mesure du facteur de bruit, à l'IMD, à la compression de gain, aux paramètres S pulsés, au NPR, à la traction de charge active et à l'ACPR, entre autres.
Ces outils permettent aux ingénieurs de concevoir et de tester, avec une seule connexion, une large gamme de dispositifs RF et micro-ondes utilisés dans les nouveaux systèmes sans fil, les radars, les systèmes de guerre électronique, les radios militaires, et bien plus encore
L'ordre du jour de la journée est le suivant
09:00 Introduction
09.15 Mesures sur appareils actifs – Partie 1
10h30 Café
11h00 Mesures sur appareils actifs – Partie 2
12.15 Mesure dans les convertisseurs de fréquence
13h30 Fermeture
L’inscription à ce séminaire est gratuite, mais le nombre de places est limité. Pour réserver votre place, veuillez appeler le 91 631 33 00 ou faxer la confirmation ci-jointe ; vous pouvez également envoyer un message avec vos coordonnées à l’adresse indiquée
