Les tendances actuelles en électronique incitent les professionnels à optimiser l'utilisation des budgets de mesure limités en optimisant les performances des instruments. Une compréhension approfondie des solutions de mesure existantes et de leurs capacités est essentielle pour raccourcir le cycle de conception/développement et de test, ainsi que pour obtenir des résultats précis et concluants.
La caractérisation précise des connecteurs, câbles, interconnexions, cartes de circuits imprimés (PCB) et boîtiers de PCB, entre autres composants, conçus pour fonctionner aux vitesses actuelles, requiert des mesures paramétriques telles que l'impédance/le délai (domaine temporel) et l'affaiblissement de retour/d'insertion (domaine fréquentiel).
Avec l'augmentation des débits binaires dans les applications numériques à haut débit, l'intégrité du signal de toutes les interconnexions, câbles, émetteurs et récepteurs a un impact considérable sur les performances du système. Garantir la fiabilité des produits et leur conformité aux normes de communication à haut débit actuelles et futures exige des mesures encore plus rigoureuses et complexes.
Un autre défi consiste à traduire les résultats de mesure obtenus en prédictions sur le comportement de notre liaison point à point et sur l'aspect du diagramme de l'œil à son extrémité. Même en connaissant le diagramme de l'œil à la sortie de l'émetteur, il est très difficile de déterminer avec précision la contribution de nos composants à l'intégrité du signal si l'on se fie uniquement aux mesures traditionnelles d'impédance/de délai et de pertes de retour/d'insertion.
Ce séminaire expliquera les principes fondamentaux des différents outils de mesure existants de manière accessible et se concentrera sur les techniques innovantes TDR/TDT basées sur les analyseurs de réseaux vectoriels (VNA). Ces techniques nous aideront à comprendre le comportement de nos câbles, connecteurs, circuits imprimés, etc., en termes de paramètres temporels et fréquentiels et d'intégrité du signal. Le séminaire abordera également les différentes options pour les environnements de production où le coût total de la solution et la rapidité des tests sont des facteurs critiques.
Le programme du séminaire sera le suivant :
09h00 – 09h15 Présentation et accueil
09h15 – 10h30 Principes fondamentaux et méthodologies de mesure : temps et fréquence
10h30 – 11h00 Pause café
11h00 – 12h15 TDR/TDT basé sur un analyseur de réseau vectoriel
12h15 – 13h00 Analyseur de circuits imprimés : hautes performances, faible coût
13h00 Clôture
L’inscription à ce séminaire est gratuite et le nombre de places est limité.
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