Pour répondre au besoin de communications plus rapides entre serveurs et périphériques réseau, la norme Ethernet 200GbE/400GbE de nouvelle génération s'appuie non seulement sur des débits de symboles plus élevés et de multiples canaux, mais aussi sur la modulation d'amplitude d'impulsions (PAM) pour accroître la vitesse de transmission. Avec le développement de la prochaine génération de normes de communication PAM4, une solution de test d'intégrité du signal, capable de générer un taux d'erreur binaire (TEB) PAM4 de haute amplitude (32 Gbaud) et de mesurer ce TEB avec une grande précision et une excellente qualité, jouera un rôle crucial.
L'analyseur de qualité de signal MP1800A est un testeur de taux d'erreur binaire (BERT) modulaire et enfichable qui prend en charge la mesure des interfaces haut débit multicanaux jusqu'à 64 Gbit/s. Les nouveaux modules G0375A et G0376A sont des têtes de mesure déportées à ajouter à la série MP1800A 32G PPG/ED afin d'étendre la prise en charge des mesures PAM4 à l'aide d'instruments de mesure NRZ.
L'association du G0375A avec le générateur de photons planétaires (PPG) MU183020A 28G/32Gbit/s permet de convertir deux signaux NRZ 32 Gbit/s en un signal PAM4 de forte amplitude de 4,4 Vc-c (différentielle, max.). De plus, la fonction de synchronisation PPG à 3 canaux, qui permet un contrôle indépendant des amplitudes des signaux PAM4 à 3 yeux, garantit une évaluation de haute reproductibilité des modulateurs optiques sans nécessiter d'amplificateur de commande externe.
Grâce à ses fonctions intégrées de décodage PAM4 et CTLE, le G0376A permet la mesure de signaux binaires décodés en PAM4 à l'aide du convertisseur haute sensibilité MU183040B 28G/32 Gbit/s. De plus, l'association avec la fonction CTLE assure des tests de performance d'entrée à haute efficacité et haute sensibilité.
