Contexte du développement :
Les fabricants de puces laser et les fournisseurs d’équipements optiques évaluent le spectre optique des puces laser lors de leur fabrication. La demande en puces laser haute puissance est stimulée par des débits de communication plus élevés et des portées de détection LiDAR accrues. De plus, de nouvelles applications, telles que les modules ELSFP (External Laser Small Pluggable) pour les applications optiques intégrées, devraient accélérer cette demande. Le signal de sortie continu (CW) d’une puce laser haute puissance subit des variations de puissance et un décalage de longueur d’onde lorsque la température de la puce augmente. Ce problème est atténué en limitant l’élévation de température grâce à l’utilisation de puces laser pulsées. Cependant, les tests actuels des puces laser pulsées en production sont plus longs car un signal de déclenchement externe est nécessaire pour la synchronisation avec la puce.
Conception robuste pour tous les environnements
– Temps de test réduit pour les diodes laser pulsées.
La nouvelle solution MS97040B-020 accélère l'évaluation du spectre optique en éliminant le besoin d'un signal de déclenchement.
– Reproductibilité des mesures garantie, même pour les diodes laser haute puissance.
Cette solution garantit une reproductibilité des mesures de ±1,4 dB* pour le taux de suppression des modes latéraux (SMSR). Une faible variation du SMSR améliore les performances des diodes laser et contribue à l'efficacité de la production.
*±1,8 dB avec le MS9740B-020 installé.
