La strumentazione odierna esegue misurazioni, fornisce dati che possiamo analizzare e ci consente di trarre conclusioni rapidamente. Vedremo come individuare e correggere diverse fonti di errore. La nanotecnologia richiede misurazioni e generazione di bassa potenza, sia in corrente che in tensione. La capacità di misurare in modalità pulsata consente misurazioni IV isotermiche, misurazioni di carico pulsato e misurazioni di stress mediante corrente alternata.
Gli argomenti che verranno discussi includono:
- Misurazioni e connessioni tipiche nella ricerca e nella nanotecnologia. Misurazioni su wafer con stazioni di sonda.
- Tecniche di misurazione necessarie per misurare correnti basse, resistenze basse e alte in materiali o dispositivi con una scala manometrica.
- Fonti di errore che influenzano le misurazioni su semiconduttori, nanomateriali e altri dispositivi.
- Soluzioni di misurazione applicabili a semiconduttori, nanodispositivi e materiali.
- Caratterizzazione e connessioni di dispositivi a nanotubi di carbonio e a singolo elettrone.
Perché i test a impulsi sono fondamentali per i nanodispositivi?
- Dispositivi con limiti isotermici (90 nm, 65 nm, FinFET, SOI, LDMOS (alta potenza)
- Blocco di carica (dielettrici con K aumentato a 65 nm o inferiore)
- Degrado della mobilità dovuto al sequestro del carico.
- Test di stress in corrente alternata per la verifica dell'affidabilità e della durata del dispositivo.
- Carica pulsata per dielettrici di gate ad alta costante dielettrica
- Test CV multifrequenza: spessore del dielettrico, caratteristiche di carica globali e di interfaccia, profili di drogaggio.
- Bioelettronica e biosensori.
-Test di memoria.
Seminario 2: Il nuovo Script Processor negli strumenti LXI semplifica la programmazione di multimetri, sistemi di commutazione e unità sorgente/misuratore, consentendo misurazioni più rapide in sistemi più economici.
Questa presentazione offre una panoramica delle nuove funzionalità degli strumenti più comuni, tra cui multimetri, datalogger, sistemi di commutazione e unità sorgente/misuratore. Dimostrerà perché gli strumenti LXI sostituiranno presto le apparecchiature basate su GPIB (numero IEEE-488GPIB in un prossimo futuro).
Gli argomenti trattati includono:
- Evoluzione nella tecnologia di test CC.
- Perché LXI?
- Programmazione TSP: come ridurre i tempi di sviluppo del software del 60%.
- Perché TSP è più veloce ed economico della programmazione GPIB?
- Come TSP-LINK semplifica la sincronizzazione tra più strumenti.
- Strumenti che combinano funzionalità di misurazione e commutazione.
Verrà inoltre mostrata una stazione di prova.
