Der neue Anritsu BERTWave MP2110A mit seiner Hochgeschwindigkeitsabtastung verkürzt die Messzeiten, und die Leistung des hochempfindlichen Fehlerdetektors verbessert die Ausbeute, wodurch die Produktionskosten für optische Module und Geräte gesenkt werden.
Im Gegensatz zu bisherigen Messumgebungen, die zwei separate Geräte zur BER-Messung und Augendiagrammanalyse benötigten, ermöglicht der MP2110A simultane Messungen und spart so Platz beim Aufstellen der Geräte. Um die Taktzeiten in der Fertigung optischer Module und Geräte zu verkürzen, wurde die maximale Abtastrate des MP2110A auf 250 km Abtastungen/s erhöht. Dadurch reduzieren sich die Analysezeiten für die Augendiagrammanalyse beim Augenmaskentest um 75 %. Der MP2110A bietet zudem die Möglichkeit, den Bitfehlertester (BERT) auf bis zu 4 Kanäle mit bis zu 28,2 Gbit/s und das integrierte Abtastoszilloskop auf 2 Kanäle zu erweitern. So kann der MP2110A gleichzeitig TRx-BER-Messungen an Mehrkanal-Optikmodulen wie QSFP28 und eine simultane 2-Kanal-Augendiagrammanalyse durchführen und die Messzeiten im Vergleich zu bisherigen Messsystemen um 65 % reduzieren.
Mit einer minimalen Empfindlichkeit von -15 dBm (typische SMF) unterstützt die optische Schnittstelle des Abtastoszilloskops eine präzise Augendiagrammanalyse von Signalen, die durch Schalter usw. abgeschwächt werden. Die ausgezeichnete PPG-Jitter-Performance von nur 600 fs rms (typisch) und die ED-Empfindlichkeit von 25 mV (typisch) ermöglichen zudem bessere Messungen als am Prüfling (DUT).
