La instrumentación hoy día realiza las medidas, ofrece datos que podemos analizar y nos permite obtener conclusiones de forma ágil. Se verá cómo detectar y corregir diversas fuentes de error. La nanotecnología requiere medida y generación de baja potencia, tanto baja corriente como voltaje. La capacidad de medir de forma pulsada permite medidas I-V isotérmicas, medidas de carga por pulsos y de estrés aplicando alterna.
Los tópicos a discutir incluyen:
- Medidas y conexiones típicas en investigación y nanotecnología. Medidas sobre obleas con estaciones de puntas.
- Técnicas de medida necesarias para medir bajas corrientes, bajas y elevadas resistencias en materiales o dispositivos de escala manométrica.
- Fuentes de error que afectan a medida sobre semiconductores, nanomateriales y otros dispositivos.
- Soluciones de medida aplicables en semiconductores, nanodispositivos y materiales.
- Caracterización y conexiones de dispositivos basados en nanotubos de carbono y único electrón.
-¿Por qué son las pruebas pulsadas críticas para Nanodispositivos?
- Dispositivos con límites isotérmicos (90 nm, 65 nm, FinFET, SOI, LDMOS(alta potencia)
- Fijación de cargas (Dieléctricos de K elevado a 65 nm o inferiores)
- Degradación de la movilidad debido a la captura de cargas.
- Estrés en AC para fiabilidad de dispositivos y test de de vida útil.
- Carga pulsada para dieléctricos de puerta con elevado k
- Pruebas CV multifrecuencia: Espesor de dieléctrico, características de carga globales y de interfase, perfiles de dopaje.
- Bioelectrónica y biosensores.
-Test de memorias.
Seminario 2: El nuevo procesador de Scripts en instrumentos LXI simplifica la programación en multímetros, sistemas de conmutación y unidades fuente / medidor permitiendo medidas más rápidas en sistemas más económicos.
Esta presentación proporciona una visión general sobre las nuevas capacidades de instrumentos comunes incluyendo multímetros, dataloggers, sistemas de conmutación y medidores/fuente. Se mostrará por qué los instrumentos LXI sustituirán pronto los equipos basados en GPIB (IEEE-488GPIB num futuro próximo.
Los tópicos a discutir incluyen:
- Evolución en la tecnología de test en DC.
- ¿Por qué LXI?
- Programación TSP, como reducir el tiempo de desarrollo de software un 60%
-¿Por qué TSP es más rápido y económico que la programación vía GPIB?
- Cómo TSP-LINK permite simplificar el sincronismo entre varios instrumentos.
- Instrumentos que combinan medidores y conmutación.
También podrán ver una estación de puntas.
