In Kombination mit einer Reihe von Analysetools sind die Modelle SDS5000X HD und SDS5000L darauf ausgelegt, den sich wandelnden Anforderungen der heutigen Leistungselektronik, eingebetteten Systeme und automatisierten Testanwendungen gerecht zu werden.
Die SDS5000X HD-Modelle verfügen über eine Touchscreen-Oberfläche, die sich ideal für den Labortisch und interaktives Debugging eignet, während die Rackmount-Varianten SDS5000L für die Integration in automatisierte Testsysteme optimiert sind und eine vollständige Fernsteuerung sowie ein platzsparendes Design ohne die Notwendigkeit eines integrierten Displays bieten.
Die Serien SDS5000X HD und SDS5000L bieten Abtastraten von bis zu 5 GSa/s. Jeder Kanal unterstützt bis zu 500 Mpts Speicher (bei allen aktiven Kanälen) und ermöglicht so Langzeitaufnahmen mit hoher Auflösung – ideal für die Analyse von Protokollsequenzen. Im Viertelkanalmodus erweitert sich die Speichertiefe auf 2,5 Gpts pro Kanal und erlaubt damit eine detaillierte Signalanalyse über längere Zeiträume. Eine effektive Bitanzahl (ENOB) von bis zu 8,2 bei 1 GHz gewährleistet einen exzellenten Dynamikbereich und eine hohe Signalgenauigkeit, selbst bei voller Bandbreite.
In Kombination mit einem Hintergrundrauschen von nur 140 µVrms bei 1 GHz bieten die neuen Modelle eine klare und detaillierte Signaldarstellung.
Anwendungsorientierte Mehrkanalanalyse: Ein 8-Kanal-Oszilloskop ermöglicht die umfassende Analyse von Dreiphasen-Leistungssignalen durch den gleichzeitigen Anschluss aller Spannungs- und Stromsignale. Diese synchronisierte Datenerfassung gewährleistet präzise Echtzeitmessungen von Signalverläufen und wichtigen Parametern über alle Phasen hinweg.
Ingenieure können Phasenbeziehungen beobachten und vergleichen, um Unsymmetrien zu erkennen und die Systemleistung zu überprüfen. Dank integrierter FFT-Funktionen unterstützt das Oszilloskop auch die detaillierte Oberwellenanalyse von Dreiphasensystemen.
Die optionale Anwendungssoftware erweitert die Funktionalität durch die Visualisierung von Vektordiagrammen für die Motordiagnose, die Beurteilung der Netzqualität, die Messung der Restwelligkeit und die Analyse der Gesamtsystemeffizienz. Neben der Leistungsanalyse basieren moderne elektronische Systeme zunehmend auf mehreren integrierten Chips und Modulen, deren Initialisierung und Betrieb sorgfältig koordiniert werden müssen, um undefinierte Zustände zu vermeiden.
Die Prüfung der Einschaltsequenz verifiziert, dass die Signale verschiedener Schaltungsmodule dem korrekten Timing folgen. Dies gewährleistet die Systemstabilität und beugt Problemen wie Datenübertragungsfehlern in Kommunikationssystemen vor. Mit zunehmender Schaltungskomplexität steigen auch die Anforderungen an die Einschaltprüfung. Das SDS5000X HD begegnet dieser Herausforderung, indem es den gesamten Einschaltvorgang aller relevanten Signale in einer einzigen Messung erfasst. Dadurch werden Messzeiten verkürzt, die Effizienz gesteigert und Fehler durch wiederholte Messungen minimiert. Für komplexe Designs mit bis zu acht Versorgungsspannungen ist diese Einzelmessungsfunktion ein leistungsstarkes Werkzeug für die zuverlässige Validierung.
Mit der Einführung der neuesten 8-Kanal-Oszilloskope von Siglent und der neuen Serie optisch isolierter Differenzialtastköpfe der ODP6000B-Serie wird eine Lücke im Bereich der Breitband-Halbleiterprüfung (WBG) geschlossen. Das SDS5000X HD bietet eine Anstiegszeit im Pikosekundenbereich und ermöglicht so die präzise Erfassung des schnellen Schaltverhaltens von Siliziumkarbid- (SiC) und Galliumnitrid- (GaN) Bauelementen. Es liefert detaillierte Analysen von Spannungs- und Stromtransienten während Schaltvorgängen, einschließlich Überschwingen, Oszillationen und anderer dynamischer Effekte.
Ergänzend dazu sind die ODP6000B-Tastköpfe mit Bandbreiten von 500 MHz und 1 GHz erhältlich und zeichnen sich durch ein außergewöhnliches Gleichtaktunterdrückungsverhältnis (CMRR) von 160 dB bei niedrigen Frequenzen aus. Dies verbessert die Genauigkeit und Störfestigkeit – unerlässlich für anspruchsvolle WBG-Bauelementmessungen.
