Aktuelle Trends in der Elektronik zwingen Fachleute dazu, begrenzte Messbudgets durch die Optimierung der Instrumentenleistung bestmöglich zu nutzen. Ein umfassendes Verständnis bestehender Messlösungen und ihrer Leistungsfähigkeit ist unerlässlich, um den Entwicklungs- und Testzyklus zu verkürzen und präzise sowie erfolgreiche Ergebnisse zu erzielen.
Die genaue Charakterisierung von Steckverbindern, Kabeln, Verbindungen, Leiterplatten (PCBs) und PCB-Gehäusen sowie anderer Komponenten, die für den Betrieb mit aktuellen Geschwindigkeiten ausgelegt sind, erfordert parametrische Messungen wie Impedanz/Laufzeit (Zeitbereich) und Rückfluss-/Einfügungsdämpfung (Frequenzbereich).
Mit steigenden Bitraten in digitalen Hochgeschwindigkeitsanwendungen beeinflusst die Signalintegrität aller Verbindungen, Kabel, Sender und Empfänger die Systemleistung erheblich. Die Gewährleistung der Produktzuverlässigkeit und die Einhaltung aktueller und zukünftiger Hochgeschwindigkeitskommunikationsstandards erfordern noch strengere und komplexere Messungen.
Eine weitere Herausforderung besteht darin, die gewonnenen Messergebnisse auf das Verhalten der Punkt-zu-Punkt-Verbindung und das zugehörige Augendiagramm am Ende der Verbindung zu übertragen. Selbst wenn man das Augendiagramm am Senderausgang kennt, ist es sehr schwierig, den Beitrag unserer Komponenten zur Signalintegrität präzise zu bestimmen, wenn man sich ausschließlich auf herkömmliche Impedanz-/Laufzeit- und Rückfluss-/Einfügungsdämpfungsmessungen stützt.
Dieses Seminar erläutert die Grundlagen der verschiedenen Messwerkzeuge auf verständliche Weise und konzentriert sich auf innovative TDR/TDT-Verfahren auf Basis von Vektornetzwerkanalysatoren (VNAs). Diese Verfahren helfen uns zu verstehen, wie sich Kabel, Steckverbinder, Leiterplatten usw. hinsichtlich Zeit-/Frequenzparametern und Signalintegrität verhalten. Das Seminar behandelt außerdem die verschiedenen Optionen für Produktionsumgebungen, in denen die Gesamtkosten der Lösung und die Testgeschwindigkeit entscheidende Faktoren sind.
Das Seminarprogramm sieht wie folgt aus:
09:00 – 09:15 Präsentation und Begrüßung
09:15 – 10:30 Grundlagen und Methoden der Messtechnik: Zeit und Frequenz
10:30 – 11:00
11:00 – 12:15 TDR/TDT basierend auf einem Vektornetzwerkanalysator
12:15 – 13:00 Leiterplattenanalysator – Hohe Leistung, niedrige Kosten
13:00 Ende
Die Teilnahme an diesem Seminar ist kostenlos, die Anzahl der Plätze ist jedoch begrenzt.
