Materialien mit großem Bandabstand (WBG), wie GaN und SiC, bieten hohe Schaltgeschwindigkeiten, geringe Verluste und sind beständig gegen hohe Temperaturen und Spannungen. Daher werden sie in Leistungselektronik, Schnellladegeräten, Elektrofahrzeugen und Schienenfahrzeugen sowie in der 5G-Infrastruktur und in Rechenzentrumsservern eingesetzt. Diese Vorteile erhöhen jedoch die Komplexität von Design und Test.
NCUOSC nutzte erfolgreich die Plattform Keysight PD1500A Dynamic Power Analyzer und Dual Pulse Tester (DPT), um ein offenes Halbleiterlabor der dritten Generation für WBG-Bauelemente einzurichten und so die Entwicklungs- und Testeffizienz zu steigern. Während JEDEC, ein weltweit führendes Unternehmen in der Entwicklung offener Standards und Publikationen für die Mikroelektronikindustrie, weiterhin dynamische Testverfahren für WBG-Bauelemente definiert, etablieren sich zunehmend standardisierte Testverfahren. Der PD1500A DPT ermittelt wichtige Leistungsparameter, die von allen Standards gefordert werden, wie z. B. Ein-/Ausschalt- und Schaltcharakteristiken, dynamischen Leitwiderstand, dynamischen Strom und Spannung sowie Sperrverzögerung, Gate-Ladung und Ausgangskennlinien des Bauelements.
„Keysight freut sich, mit NCUOSC zusammenzuarbeiten, um Ingenieurteams dabei zu helfen, Innovationen für die nächste Generation von Halbleitertechnologien zu charakterisieren, zu verstehen, zu integrieren, einzusetzen und weiterzuentwickeln“, sagte Thomas Goetzl, Vizepräsident und General Manager der Geschäftseinheit Energy and Automotive Solutions von Keysight.
Zuverlässige und reproduzierbare Messungen sind entscheidend für die beschleunigte Entwicklung und Validierung neuer Technologien, darunter auch Halbleiter mit großer Bandlücke. Die intelligenten Funktionen des Keysight PD1500A DPT , wie die vollautomatische Parameterextraktionssoftware gemäß IEC- und JEDEC-Standards, Schleifentests, Spannungs- und Strom-Sweep-Tests sowie automatisierte Hochtemperaturtests, tragen maßgeblich zur Förderung zukünftiger Innovationen bei.
„Das Keysight PD1500A DPT ermöglicht es dem NCUOSC, WBG-Bauelemente zuverlässig zu charakterisieren und Innovationen in GaN- und SiC-Anwendungen voranzutreiben. Seine Sicherheitsfunktionen, Skalierbarkeit und optionalen Messwerkzeuge bieten uns die nötige Flexibilität für zukünftige Erweiterungen“, so Professor Yue-Ming Hsin, Direktor des NCUOSC. „Neben dem PD1500A nutzen wir den Keysight B1505A/N1265A Leistungselektronik-Analysator und Kennlinienschreiber, um umfassende und wichtige Charakterisierungen von WBG-Halbleitern durchzuführen. Wir freuen uns über die Zusammenarbeit mit Keysight und unseren Beitrag zum Ökosystem von 5G/6G und Elektrofahrzeugen.“
Über das optoelektronische Forschungszentrum der Nationalen
Die Forschungsschwerpunkte der einzelnen Gruppen am National Central University Optical Sciences Center (NCUOSC) umfassen optoelektronische Halbleitermaterialien und -komponenten, Hochfrequenz- und Hochgeschwindigkeits-ICs, Holographie, nichtlineare Optik, optische Präzisionsbeschichtungstechnologie, integrierte optische Materialien und Komponenten, Biochips sowie organische und amorphe Silizium-Lumineszenzmaterialien und -bauelemente. Zukünftig werden wir die langfristige Forschung intensivieren und die Ressourcen der verschiedenen Gruppen bündeln, um Anwendungen in den Bereichen optische und drahtlose Kommunikation, Festkörperbeleuchtung, Displaytechnologie, Energieoptoelektronik, optische Datenspeicherung und Biooptoelektronik zu entwickeln. Weitere Informationen finden Sie unter https://www.ncu.edu.tw/~osc/ .
