EXFO Inc. ha lanzado lo que afirma es el sistema de prueba de componentes más rápido para la medición de pérdida de inserción (IL) y pérdida de retorno (RL) para una matriz de componentes pasivos, como los circuitos integrados de fotónica.

La plataforma de prueba de componentes CTP10 combina la tecnología obtenida de la adquisición por EXFO del desarrollador de instrumentos de prueba y medición Yenista Optics en septiembre de 2017. La nueva plataforma CTP10 puede ser utilizada por científicos investigadores para caracterizar componentes, o en modo automático para producción de gran volumen.
La creciente demanda de circuitos integrados fotónicos (PIC) compuestos por cientos de componentes pasivos, y para reducir los costes de los equipos de red, han contribuido a la necesidad de los fabricantes de componentes pasivos de disminuir el tiempo de prueba, manteniendo la precisión y fiabilidad. Según EXFO, la plataforma de prueba de componentes CTP10 tiene la capacidad de medir IL y RL en un solo barrido de hasta 1000 Nmps para abordar estos desafíos.

Este anuncio sigue al lanzamiento de EXFO a principios de este año de SkyRAN, un sistema de prueba y monitorización de acceso remoto para redes inalámbricas de fronthaul de fibra óptica, como las previstas para dispositivos móviles 5G.

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