Con el VST de segunda generación, los ingenieros pueden generar y medir simultáneamente hasta 32 portadoras LTE, cada una con 20 MHz de ancho de banda, y utilizar el software para especificar varios esquemas de espacio de portadoras.
La última versión de NI-RFmx también incluye mejoras en los algoritmos para reducir el tiempo de medida. Los ingenieros que realizan medidas espectrales y de calidad de modulación para tecnologías inalámbricas como UMTS/HSPA+ y LTE/LTE-Advanced Pro pueden notar una reducción en el tiempo de medida EVM de hasta el 33 por ciento1 al instalar la última versión del software. Las mejoras en la velocidad de medida en NI-RFmx forman parte de los esfuerzos continuados de NI de ayudar a los clientes a reducir el coste de prueba con medidas más rápidas.
“Al adoptar PXI y LabVIEW junto con el software de medida NI-RFmx, hemos visto que muchos clientes del sector de semiconductores reducen significativamente el tiempo de prueba para medidas de RF, lo que disminuye el coste de prueba y acelera el tiempo de comercialización”, afirmó Charles Schroeder, vicepresidente de RF en NI. “La combinación de una buena documentación, gran cantidad de códigos de ejemplo y buena integración con hardware PXI como el VST de segunda generación, han ayudado a nuestros clientes a adoptar rápida y fácilmente NI-RFmx en sus sistemas de prueba”.
Además de las mejoras en los algoritmos, NI-RFmx también añade más soporte para medidas como la distorsión de la intermodulación, la intersección de tercer orden y las medidas de cifras de ruido de origen de frío y del factor Y. Estas medidas se integran fácilmente con el analizador de señales de RF PXIe-5668R para que los ingenieros puedan configurar fácilmente conjuntos de pruebas de cifras de ruido y distorsión de intermodulación PXI de gran rendimiento. Los usuarios actuales de NI-RFmx pueden pulsar aquí para descargar y empezar a utilizar la última versión.
 
1Basado en numerosos bancos de prueba de I+D en configuraciones que representan un caso de uso típico.

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