Mit dem VST der zweiten Generation können Ingenieure gleichzeitig bis zu 32 LTE-Träger mit jeweils 20 MHz Bandbreite erzeugen und messen und die Software nutzen, um verschiedene Trägerraumschemata festzulegen.
Die neueste Version von NI-RFmx enthält zudem Algorithmusverbesserungen zur Reduzierung der Messzeit. Ingenieure, die Spektral- und Modulationsqualitätsmessungen für drahtlose Technologien wie UMTS/HSPA+ und LTE/LTE-Advanced Pro durchführen, können mit einer Reduzierung der EVM-Messzeit um bis zu 33 Prozent rechnen.1 durch die Installation der neuesten Softwareversion. Die Verbesserungen der Messgeschwindigkeit in NI-RFmx sind Teil der kontinuierlichen Bemühungen von NI, Kunden dabei zu helfen, Testkosten durch schnellere Messungen zu senken.
„Durch die Nutzung von PXI und LabVIEW in Verbindung mit der Messsoftware NI-RFmx konnten viele Halbleiterkunden die Testzeiten für HF-Messungen deutlich verkürzen. Dies senkt die Testkosten und beschleunigt die Markteinführung“, so Charles Schroeder, Vice President RF bei NI. „Die Kombination aus guter Dokumentation, umfangreichem Beispielcode und der gelungenen Integration mit PXI-Hardware wie dem VST der zweiten Generation hat unseren Kunden die schnelle und einfache Einführung von NI-RFmx in ihre Testsysteme ermöglicht.“
Neben algorithmischen Verbesserungen bietet NI-RFmx auch erweiterte Unterstützung für Messungen wie Intermodulationsverzerrung, Schnittpunktmessung dritter Ordnung sowie Rauschzahlmessungen mit kalten Quellen und Y-Faktor. Diese Messungen lassen sich nahtlos in den HF-Signalanalysator PXIe-5668R integrieren und ermöglichen es Ingenieuren, leistungsstarke PXI-Testsuiten für Intermodulationsverzerrung und Rauschzahl einfach zu konfigurieren. Aktuelle NI-RFmx-Nutzer können klicken Sie hier Um die neueste Version herunterzuladen und zu verwenden, klicken Sie hier.
 
1Basierend auf zahlreichen F&E-Testständen in Konfigurationen, die einen typischen Anwendungsfall darstellen.

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