In Kombination mit flexibler Testsequenzierungssoftware wie dem TestStand Wireless Test Module können Hersteller die Geräteauslastung beim parallelen Testen mehrerer Geräte deutlich verbessern. Das WTS lässt sich problemlos in Fertigungslinien integrieren und bietet sofort einsatzbereite Testsequenzen für Geräte mit Chipsätzen von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom sowie integrierte Fernsteuerung und Prüflinge. Dank dieser Funktionen erzielen Kunden erhebliche Effizienzsteigerungen bei ihren HF-Testgeräten und senken ihre Testkosten zusätzlich.

Das WTS ist das neueste System von NI, basierend auf PXI-Hardware sowie LabVIEW- und TestStand-Software (siehe das 2014 veröffentlichte Halbleiter-Testsystem). Es unterstützt drahtlose Standards von LTE Advanced bis 802.11ac für Bluetooth Low Energy und ist für die Fertigungsprüfung von WLAN-Zugangspunkten, Mobiltelefonen, Infotainmentsystemen und anderen Multistandard-Geräten konzipiert. Dabei werden Mobilfunkstandards, drahtlose Verbindungen und Navigationssysteme berücksichtigt. Die softwarebasierte PXI-Vektorsignal-Transceiver-Technologie des WTS bietet hohe HF-Leistung in der Fertigungsumgebung und eine skalierbare Plattform für sich ändernde Anforderungen an HF-Tests.

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