Moderne Messgeräte führen Messungen durch, liefern analysierbare Daten und ermöglichen schnelle Schlussfolgerungen. Wir werden sehen, wie sich verschiedene Fehlerquellen erkennen und korrigieren lassen. Die Nanotechnologie erfordert energiearme Mess- und Erzeugungsmethoden für Strom und Spannung. Messungen im Pulsbetrieb ermöglichen isotherme Strom-Spannungs-Kennlinienmessungen, Impulslastmessungen und Spannungsmessungen mit Wechselstrom.
Zu den zu besprechenden Themen gehören:
- Typische Messungen und Verbindungen in Forschung und Nanotechnologie. Messungen an Wafern mit Probestationen.
- Messtechniken, die zur Messung niedriger Ströme sowie niedriger und hoher Widerstände in Materialien oder Geräten mit einer Manometerskala erforderlich sind.
- Fehlerquellen, die Messungen an Halbleitern, Nanomaterialien und anderen Bauelementen beeinflussen.
- Messlösungen, die für Halbleiter, Nanobauelemente und Materialien geeignet sind.
- Charakterisierung und Verbindungen von Kohlenstoffnanoröhren- und Einzelelektronenbauelementen.
-Warum sind gepulste Tests für Nanobauelemente so wichtig?
- Bauelemente mit isothermen Grenzen (90 nm, 65 nm, FinFET, SOI, LDMOS (Hochleistung))
- Ladungssperre (Dielektrika mit einem auf 65 nm oder niedriger erhöhten K-Wert)
- Beeinträchtigung der Mobilität durch Frachtabfang.
- Wechselstrom-Stresstests zur Überprüfung der Gerätezuverlässigkeit und Lebensdauer.
- Gepulste Ladung für Gate-Dielektrika mit hoher k-Wert
- Multifrequenz-CV-Tests: Dielektrische Dicke, globale und Grenzflächen-Aufladungseigenschaften, Dotierungsprofile.
- Bioelektronik und Biosensoren.
-Gedächtnistest.
Seminar 2: Der neue Skriptprozessor in LXI-Geräten vereinfacht die Programmierung von Multimetern, Schaltsystemen und Mess-/Quelleneinheiten und ermöglicht so schnellere Messungen in kostengünstigeren Systemen.
Diese Präsentation bietet einen Überblick über die neuen Funktionen gängiger Messgeräte, darunter Multimeter, Datenlogger, Schaltsysteme und Mess-/Quelleneinheiten. Es wird aufgezeigt, warum LXI-Geräte GPIB-basierte Geräte (IEEE-488GPIB-Nummer in naher Zukunft) bald ersetzen werden.
Folgende Themen werden behandelt:
– Entwicklung der Gleichstrom-Testtechnologie.
– Warum LXI?
– TSP-Programmierung: Wie lässt sich die Softwareentwicklungszeit um 60 % reduzieren?
– Warum ist TSP schneller und kostengünstiger als GPIB-Programmierung?
– Wie TSP-LINK die Synchronisierung mehrerer Geräte vereinfacht.
– Geräte mit kombinierten Mess- und Schaltfunktionen.
Sie sehen außerdem eine Messstation.
