Die grafische Benutzeroberfläche (GUI) zeigt Diagramme und Analyseergebnisse gleichzeitig auf zwei externen Bildschirmen an.
Die Plattform ist für Hochleistungsmessungen in Forschung und Entwicklung sowie in der Produktion konzipiert. Sie deckt den Wellenlängenbereich von 1240 bis 1680 nm ab und kann vier Bauteile gleichzeitig unabhängig voneinander testen. Ein Einzelwellenlängen-Scan mit einem externen abstimmbaren Laser ermöglicht Messungen der Einfügungsdämpfung und Rückflussdämpfung mit einem Dynamikbereich von 70 dB. Die Leistungsmesser der Plattform erlauben die präzise Charakterisierung kleiner Welligkeiten (0,1 mdBm/µs) und steiler Ausschläge (>1 dB/µs) für High-End-Filter und Mikroresonatoren mit Flankensteilheiten bis zu 10.000 dB/nm.
„Mit dem CTP10 haben wir eine exponentielle Leistungssteigerung erzielt. Die Plattform verfügt über eine beispiellose Kapazität zur Verarbeitung und Analyse großer Messdatenmengen. Sie kann bis zu 60 Leistungsmesser aufnehmen und Daten mit 1 MS/s pro Leistungsmesser erfassen“, so David Heard, Vertriebsleiter bei Yenista. „Die Benutzeroberfläche ist ebenfalls beeindruckend. Sie basiert auf der Philosophie unseres optischen Spektrumanalysators OSA20 und stellt die Anwendung in den Vordergrund, nicht das Gerät selbst. Messungen einzurichten und Ergebnisse auszuwerten ist jetzt einfach und intuitiv.“
Im März wurde der CTP10 erstmals erfolgreich in einer Live-Demonstration auf der OFC 2017 vorgestellt. Das Produkt wird im vierten Quartal 2017 im Handel erhältlich sein.

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