• Erweiterte Funktionen für schnelle Signalerkennung • LabVIEW-Integration • Schutzart IP67/69K
Es umfasst Funktionen für digitale Filterung, Impulsdetektionsverlängerung, Detektionseinstellung/-rückstellung, Zähler und PWM. Alle Funktionen werden über die Engineering-Software des Controller-Herstellers oder alternativ über den Webserver oder die Pactware-Software konfiguriert. Die Geräte können wie gewohnt ohne Konfiguration verwendet werden. Die digitale Filterung erhöht die Zeitschwelle, ab der das Modul ein Signal erkennt, von 0,2 auf 3 ms. Dies reduziert die Wahrscheinlichkeit von Fehlinterpretationen, insbesondere in Umgebungen mit starken elektromagnetischen Störungen. Die Impulsdetektionsverlängerung dient zur Verlängerung von Signalen, die zu kurz sind, um innerhalb des SPS-Zyklus geändert zu werden. Die Detektionseinstellungs-/-rückstellungsfunktion ermöglicht es dem Modul, das Signal so lange zu halten, bis der Controller es registriert und erkennt. Die Zählerfunktion ist am ersten Eingangskanal des TBEN-S verfügbar und für Frequenzen bis zu 50 kHz ausgelegt. Mit den neuen Funktionen unterstützen die digitalen Ausgänge Pulsweitenmodulation (PWM) mit Frequenzen bis zu 100 Hz.
Darüber hinaus lässt sich die Turck TBEN-S-Serie mithilfe von LabVIEW-Integrationstreibern ohne zusätzliche SPSen oder Steuerungen in die Testbench-Automatisierung integrieren.
Die Website von National Instruments bietet ab sofort LabVIEW-Treiber zum Download für die kompakten I/O-Module TBEN-S von Turck an. Mit den neuen Treibern können Anwender die Kosten für die Automatisierung von Produktionsprüfständen senken.
Die kompakten I/O-Module TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI und TBEN-S1-8DXP können bestehende I/O-Systeme für die Testautomatisierung ersetzen. Eine separate SPS zur Ansteuerung der Module ist nicht mehr erforderlich. Dank ihrer hohen Schutzart IP67/69K können die Module direkt vor Ort installiert werden.
