Además, la versión 1.3 del WTS mejora la prueba paralela de Bluetooth 5 y los estándares del internet de las cosas (IoT) de bajo consumo, como ZigBee y Z-Wave.
 
El nuevo proyecto de estándar 802.11ax incluye cambios significativos en la capa física (PHY) para ofrecer un rendimiento de datos superior a la media para el usuario en entornos muy ocupados. Estos cambios introducen más complejidad a la caracterización, validación del diseño y esfuerzos en la prueba de producción, pero los ingenieros pueden aprovechar el WTS para automatizar sus soluciones de medidas 802.11ax para conseguir una cobertura de prueba precisa y amplia de sus nuevos diseños. El software del instrumento WTS y los transceptores de señales vectoriales (VST) de NI alimentan configuraciones grandes de entrada y salida múltiples (MIMO) hasta medidas EVM de magnitud vectorial de errores precisas y de prueba simultánea de doble banda 8x8. El nuevo software también aborda la difícil tarea de crear una variedad de casos multiusuario basados en triggers en los que cada usuario simulado tiene alteraciones y configuraciones de forma de onda únicas. Para acortar el tiempo de desarrollo en presencia de estos nuevos retos de prueba, el WTS proporciona soporte integrado para herramientas de control DUT de proveedores líderes en conjuntos de chips.
 
Además, la versión 1.3 del WTS también incluye actualizaciones del módulo de prueba inalámbrica (WTM) TestStand. Como extensión del software TestStand de NI, el ejecutivo de pruebas líder del sector para pruebas paralelas, el TestStand WTM, simplifica la creación de secuencias complejas de pruebas inalámbricas para el laboratorio y la fábrica. El WTM ayuda a los ingenieros a conseguir rápidos tiempos de prueba y gran rendimiento programando automáticamente la ejecución de planes de prueba multisitio para dispositivos de conectividad inalámbricos.
 
El WTS presenta una plataforma eficiente y robusta para la prueba multisitio de los últimos dispositivos de IoT de bajo consumo 802.11ax y Bluetooth de baja energía. Esta técnica escala sistemáticamente con los requisitos de RF en evolución de estándares inalámbricos para reducir el coste de la prueba, aumentar la producción y preparar a los ingenieros de test para los retos del mañana.

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